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技術(shù)文章

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采用高靈敏度亮度計(jì)用于儀表顯示檢測(cè)的解決方案汽車(chē)內(nèi)儀表顯示分為功能性照明和指示性照明，用于增強(qiáng)黑暗中的照明亮度及指示汽車(chē)儀表狀態(tài)。目前汽車(chē)內(nèi)背照燈及指標(biāo)燈越來(lái)越多的采用LED，不僅對(duì)其亮度有要求，對(duì)其顏色也有較高要求。高靈敏度快速光譜式亮度計(jì)PR-740特點(diǎn)：優(yōu)勢(shì)：采用制冷型CCD探測(cè)器有效抑制暗噪聲及雜散光高靈敏度可快速測(cè)試弱光信號(hào)一臺(tái)儀器zui多可選8個(gè)光闌方便準(zhǔn)確對(duì)準(zhǔn)儀表盤(pán)目標(biāo)小點(diǎn)多光譜帶寬選項(xiàng)對(duì)于窄帶光譜具有更好的精度光譜功率分布測(cè)試功能避免同色異譜帶來(lái)的顏色誤差動(dòng)態(tài)范圍寬可以測(cè)試顯示面板較大的對(duì)比度生產(chǎn)廠家：...

2018 4-13
10分鐘讓老化的LED顯示屏光亮如新--RadiantZemaxLED顯示屏現(xiàn)場(chǎng)再校準(zhǔn)解決方案由于LED顯示屏的RGB燈珠的亮度會(huì)隨著時(shí)間衰減，且衰減速度不同，造成LED顯示屏亮度、色度不一致，出現(xiàn)老化和花屏現(xiàn)象。如何對(duì)這些老化的LED顯示屏進(jìn)行快速、低成本而有效的“現(xiàn)場(chǎng)再校正”，延長(zhǎng)LED屏的“悅眼壽命”成為越來(lái)越多LED顯示屏企業(yè)的新挑戰(zhàn)，也是新機(jī)遇！上圖所示的LED顯示屏，經(jīng)過(guò)2年的使用，由于RGB燈珠衰減的不一致導(dǎo)致花屏，臟屏現(xiàn)象嚴(yán)重。您是否還在選擇把箱體拆下運(yùn)回工廠重新校正后再進(jìn)行安裝？您是否還在選擇...

2018 4-13
解決直讀光譜儀常見(jiàn)問(wèn)題直讀光譜儀采用原子發(fā)射光譜學(xué)的分析原理，樣品經(jīng)過(guò)電弧或火花放電激發(fā)成原子蒸汽，蒸汽中原子或離子被激發(fā)后產(chǎn)生發(fā)射光譜，發(fā)射光譜經(jīng)光導(dǎo)纖維進(jìn)入光譜儀分光室色散成各光譜波段，根據(jù)每個(gè)元素發(fā)射波長(zhǎng)范圍。通過(guò)光電管測(cè)量每個(gè)元素的*譜線(xiàn)，每種元素發(fā)射光譜譜線(xiàn)強(qiáng)度正比于樣品中該元素含量，通過(guò)內(nèi)部預(yù)制校正曲線(xiàn)可以測(cè)定含量，直接以百分比濃度顯示。直讀光譜儀的常見(jiàn)故障及解決方法：1、直讀光譜儀排氣不暢故障，氬氣排氣管路堵塞，火花室下部的彎頭內(nèi)有異物，氬氣過(guò)濾器入口端有異物。處理辦法：更換排氣管，...

2018 4-13
Vision系列LED顯示屏光色校正解決方案Vision系列LED顯示屏校正系統(tǒng)是一個(gè)LED顯示屏制造商和用戶(hù)顯著改善LED屏色彩和亮度均勻性的解決方案。該系統(tǒng)適用于多種場(chǎng)合校正要求：LED顯示屏制造業(yè)領(lǐng)域的LED模塊和屏幕校正；LED顯示屏使用領(lǐng)域的LED室內(nèi)和室外屏幕校正；LED顯示屏的重新校準(zhǔn)和性能的改善。VisionCAL—LED顯示屏的色度和亮度逐點(diǎn)校正系統(tǒng)VisionCAL系統(tǒng)使用一架PM系列影像色度計(jì)測(cè)量LED模塊或屏幕中每一顆LED的色度和亮度。在此測(cè)量基礎(chǔ)上，VisionCAL應(yīng)用軟件計(jì)算優(yōu)化每個(gè)LE...

2018 4-13
氣體傳感器的類(lèi)型氣體傳感器的類(lèi)型，從檢測(cè)氣體種類(lèi)上，常分為可燃?xì)怏w傳感器（常采用催化燃燒式、紅外、熱導(dǎo)、半導(dǎo)體式）、有毒氣體傳感器（一般采用電化學(xué)、金屬半導(dǎo)體、光離子化、火焰離子化式）、有害氣體傳感器（常采用紅外、紫外等）、氧氣（常采用順磁式、氧化鋯式）等其它類(lèi)傳感器；從儀表使用方法上，分為便攜式和固定式；從獲得氣體樣品的方式上，分為擴(kuò)散式（即傳感器直接安裝在被測(cè)對(duì)象環(huán)境中，實(shí)測(cè)氣體通過(guò)自然擴(kuò)散與傳感器檢測(cè)元件直接接觸）、吸入式（是指通過(guò)使用吸氣泵等手段，將待測(cè)氣體引入傳感器檢測(cè)元件中進(jìn)行檢...

2018 4-13
MEMS器件近紅外檢測(cè)技術(shù)在半導(dǎo)體制造過(guò)程中，前期的全自動(dòng)晶圓缺陷檢測(cè)技術(shù)非常重要。因?yàn)樵诤蠖说纳a(chǎn)流程中，通常會(huì)有多片晶圓粘合到一起，或者把晶圓粘合到不透明的材料上。因?yàn)榘雽?dǎo)體材料對(duì)可見(jiàn)光都是不透明的，所以很難用可見(jiàn)圖像技術(shù)對(duì)粘合效果做表征或者檢測(cè)粘合表面的污染。比如MEMS的分選就是典型的應(yīng)用。MEMS是把微型機(jī)械部件、微型傳感器、微電路集成到一個(gè)芯片上；為確保MEMS的運(yùn)作，對(duì)其進(jìn)行缺陷檢測(cè)是至關(guān)重要的，但很多機(jī)械性能無(wú)法通過(guò)電氣或功能測(cè)試來(lái)確定。因?yàn)檫@些缺陷往往位于基板上或器件與封蓋晶圓之間連...

2018 4-13
冷CCD相機(jī)在微光顯微鏡（EMMI）的應(yīng)用半導(dǎo)體器件和電路制造技術(shù)飛速發(fā)展，器件特征尺寸不斷下降，而集成度不斷上升。這兩方面的變化都給失效缺陷定位和失效機(jī)理的分析帶來(lái)巨大的挑戰(zhàn)。對(duì)于半導(dǎo)體失效分析（FA）而言，微光顯微鏡（EmissionMicroscope,EMMI）是一種相當(dāng)有用且效率高的分析工具。微光顯微鏡其高靈敏度的偵測(cè)能力，可偵測(cè)到半導(dǎo)體組件中電子－電洞對(duì)再結(jié)合時(shí)所發(fā)射出來(lái)的光線(xiàn)，能偵測(cè)到的波長(zhǎng)約在350nm~1100nm左右。它可以廣泛的應(yīng)用于偵測(cè)IC中各種組件缺陷所產(chǎn)生的漏電流，如：Gateoxided...

2018 4-13
飛秒激光及超快/*科學(xué)解決方案以飛秒激光技術(shù)為核心的超快光學(xué)及強(qiáng)場(chǎng)物理科學(xué)，在近20年來(lái)發(fā)展迅速。飛秒激光本身，隨著鈦寶石自鎖模振蕩器、CPA技術(shù)、光纖飛秒等重大技術(shù)的創(chuàng)新和發(fā)展，在超快（周期量級(jí)飛秒脈沖）、*（峰值功率拍瓦）、穩(wěn)定性和實(shí)用性等方向上取得了長(zhǎng)足的發(fā)展。其應(yīng)用已經(jīng)深入到物理、化學(xué)、材料、生物醫(yī)學(xué)、工業(yè)加工的廣闊領(lǐng)域，主要應(yīng)用如：1）端超快物理研究：阿秒脈沖產(chǎn)生與阿秒動(dòng)力學(xué)；2）端*物理研究：強(qiáng)相對(duì)論電子，量子電動(dòng)力學(xué)，實(shí)驗(yàn)室天體物理；3）強(qiáng)場(chǎng)物質(zhì)相互作用研究：高次諧波，粒子加速，激光驅(qū)動(dòng)核聚...

2018 4-13

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